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May 16, 2023

Verifire™ Asphere+ : devis, demande de devis, prix et achat

Besoin de plus d'informations? Laissez-nous vous aider avec vos demandes de renseignements, brochures et exigences de prix. L'optique asphérique offre des avantages considérables dans la conception et la mise en œuvre de l'imagerie, de la détection et

Besoin de plus d'informations?

Laissez-nous vous aider avec vos demandes de renseignements, brochures et exigences de prix

L'optique asphérique a offert des avantages considérables dans la conception et la mise en œuvre de systèmes d'imagerie, de détection et laser utilisés dans l'exposition des semi-conducteurs, les industries de la défense et de l'aérospatiale, les systèmes d'inspection et les systèmes d'imagerie médicale.

La production d'asphères qui facilitent de telles applications est basée sur une métrologie de précision. En fin de compte, les utilisateurs ne peuvent pas réaliser ce qu’ils ne peuvent pas mesurer en matière d’optique asphérique.

Le Verifire™ Asphere+ (VFA+) exploite les avantages de l’interférométrie de Fizeau pour offrir une combinaison unique de métrologie d’ouverture précise, rapide, haute résolution et complète pour les asphères axisymétriques.

Le VFA+ offre une plateforme de métrologie adaptable pour quantifier une gamme d'asphères axisymétriques avec un changement de sphère de transmission. Le VFA+ a été équipé d'un étage secondaire en option qui assiste un hologramme généré par ordinateur (CGH), élargissant la capacité de forme asphérique aux formes libres non symétriques et à l'optique asphérique hors axe.

En mettant l'accent sur l'amélioration de l'expérience utilisateur, les utilisateurs peuvent facilement configurer de nouvelles mesures, parcourir les données et les résultats de mesure et diagnostiquer les problèmes de production. Le logiciel Mx™ permet des phases de R&D et de prototypage efficaces et améliore les applications de production avec des capacités de configuration, d'alignement et de mesure en un seul clic.

Crédit vidéo : Zygo Corporation

Autres fonctionnalités du VFA+

Compass™ -Systèmes de métrologie de processus à micro-lentilles

Conception et fabrication d'électro-optiques complexes

DynaFiz® - Système optique qui offre une visualisation claire des caractéristiques des fréquences spatiales moyennes

Interféromètres infrarouges à imagerie IR

Mesurer des surfaces avec une technique sans contact avec l'APM650™

Utilisation de la série ZMI™ pour les applications OEM

Utilisation des systèmes à grande ouverture de ZYGO pour maintenir deux cavités métrologiques indépendantes

Verifire™ MST : interféromètre de test multi-surfaces

Verifire™ XL : interféromètre orienté vers le bas